SN74ABT18245ADLR
![jakość [#varpname#] fabryka](/images/load_icon.gif){kind=icon}
producent:
Texas Instruments
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Kategoria:
Logika
Specyfikacje
Kategoria:
Układy scalone (IC) Logika Specjalna logika
Liczba bitów:
18
Status produktu:
Aktywny
Rodzaj montażu:
Powierzchnia
Pakiet:
Taśma i rolka (TR)
Taśma cięcia (CT)
Digi-Reel®
Zestaw:
74ABT
Typ logiki:
Skanuj urządzenie testowe za pomocą nadajników-odbiorników magistrali
Zestaw urządzeń dostawcy:
56-SSOP
Mfr:
Texas Instruments
Temperatura pracy:
-40°C ~ 85°C
Napięcie zasilania:
4,5 V ~ 5,5 V
Opakowanie / Pudełko:
56-BSSOP (0,295", 7,50 mm szerokości)
Numer produktu podstawowego:
74ABT18245
Wprowadzenie
Urządzenie badawcze skanujące z nadajnikami busu IC 56-SSOP
Wyślij zapytanie ofertowe
Akcje:
MOQ: