Wymagania:
![jakość [#varpname#] fabryka](/images/load_icon.gif){kind=icon}
producent:
Texas Instruments
Opis:
URZĄDZENIE TESTOWE SKANOWANIA IC BUFF 24-SOIC
Kategoria:
Logika
Specyfikacje
Kategoria:
Układy scalone (IC) Logika Specjalna logika
Liczba bitów:
8
Status produktu:
Nieprzydatne
Rodzaj montażu:
Powierzchnia
Pakiet:
Taśma i rolka (TR)
Zestaw:
74BCT
Typ logiki:
Skanuj urządzenie testowe z buforami odwracającymi
Zestaw urządzeń dostawcy:
24-SOIC
Mfr:
Texas Instruments
Temperatura pracy:
0°C ~ 70°C
Napięcie zasilania:
4,5 V ~ 5,5 V
Opakowanie / Pudełko:
24-SOIC (0,295", 7,50 mm szerokości)
Numer produktu podstawowego:
74BCT8240
Wprowadzenie
Urządzenie badawcze skanujące z buforami odwracającymi IC 24-SOIC
Wyślij zapytanie ofertowe
Akcje:
MOQ: