SN74LVTH182652APM
![jakość [#varpname#] fabryka](/images/load_icon.gif){kind=icon}
producent:
Texas Instruments
Opis:
URZĄDZENIE TESTOWE SKANOWANIA IC ABT 64-LQFP
Kategoria:
Logika
Specyfikacje
Kategoria:
Układy scalone (IC) Logika Specjalna logika
Liczba bitów:
18
Status produktu:
Aktywny
Rodzaj montażu:
Powierzchnia
Pakiet:
Płytka
Zestaw:
74LVTH
Typ logiki:
Urządzenie testowe skanowania ABT z transceiverami i rejestrami
Zestaw urządzeń dostawcy:
64-LQFP (10x10)
Mfr:
Texas Instruments
Temperatura pracy:
-40°C ~ 85°C
Napięcie zasilania:
2.7V ~ 3.6V
Opakowanie / Pudełko:
64-LQFP
Numer produktu podstawowego:
74LVTH182652
Wprowadzenie
Urządzenie do testowania skanu ABT z nadajnikami i rejestrami IC 64-LQFP (10x10)
Wyślij zapytanie ofertowe
Akcje:
MOQ: