SN74BCT8240ANTG4
![jakość [#varpname#] fabryka](/images/load_icon.gif){kind=icon}
producent:
Texas Instruments
Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Kategoria:
Logika
Specyfikacje
Kategoria:
Układy scalone (IC) Logika Specjalna logika
Liczba bitów:
8
Status produktu:
Nieprzydatne
Rodzaj montażu:
Przez dziurę
Pakiet:
Rurka
Zestaw:
74BCT
Typ logiki:
Skanuj urządzenie testowe z buforami odwracającymi
Zestaw urządzeń dostawcy:
24-PDIP
Mfr:
Texas Instruments
Temperatura pracy:
0°C ~ 70°C
Napięcie zasilania:
4,5 V ~ 5,5 V
Opakowanie / Pudełko:
24-DIP (0,300", 7,62 mm)
Numer produktu podstawowego:
74BCT8240
Wprowadzenie
Urządzenie badawcze skanujące z buforami odwracającymi IC 24-PDIP
Wyślij zapytanie ofertowe
Akcje:
MOQ: